固晶机用同轴连续变倍工业镜头,支持0.41X–2.68X手动变倍、3mm精细调焦和74±1.5mm工作距离。同轴照明结合远心光学设计,可增强晶圆、芯片及高反光精密元件的成像对比度,适用于视觉识别、对位和高精度定位。
这款同轴连续变倍镜头专为固晶机、半导体封装设备及高精度机器视觉定位应用设计。镜头支持0.41X–2.68X手动连续变倍,可根据工件尺寸、检测视野和特征大小灵活调整成像倍率,无需频繁更换镜头。如需对比其他倍率范围,可查看POMEAS 工业连续变倍镜头 。
产品采用 远心光学 与同轴照明设计,有助于减少因工件高度变化产生的成像视差,同时改善晶圆、芯片、金属件等高反光表面的照明均匀性,使边缘、标记和定位特征更加清晰。3mm手动微调结构便于精细对焦和设备校准,适合固晶定位、晶圆对位、芯片识别及自动化精密检测。

支持手动连续调节成像倍率,可兼顾较大视野观察和局部细节检测,方便适配不同尺寸的晶圆、芯片及精密零件。
配置手动3mm微调功能,可对成像焦点进行精细校准,提高镜头安装、设备调试和换线后的对焦效率。
照明光线与镜头成像光路保持在接近同一轴线上,可减少侧向照明形成的阴影和亮度不均,适合高反光、平整表面的特征成像。
有助于降低成像视差及工件高度变化对尺寸和位置判断的影响,提高不同位置、不同高度工件的成像一致性。有关远心镜头减少透视误差及保持成像倍率稳定的光学原理,可参考 远心光学技术说明 。
工作距离为74±1.5mm,可为设备安装、工件运动和照明结构预留相对稳定的空间,便于集成到固晶机及自动化视觉模组中。
采用C-Mount接口,可连接兼容的 工业相机及机器视觉组件 ,方便集成至半导体设备、自动化定位系统和机器视觉检测设备。
镜头可在0.41X–2.68X范围内连续变倍。低倍率适合观察较大区域和快速查找目标,高倍率适合查看芯片边缘、标记及细小结构。
随着倍率提高,镜头数值孔径和细节分辨能力相应提升。在2.01X和2.68X倍率下,参考分辨率可达到3.95μm,适合精密定位和微小特征识别。
低倍率具有相对较大的景深,适合较大范围的目标搜索和初步定位;高倍率具有更高的细节识别能力,适合精细对位和局部检测。
同轴照明能够提升晶圆、芯片、金属镀层及其他高反光平面上的字符、边缘和图形对比度,减少传统侧光产生的明显阴影。
远心光学结构可减少透视变形和高度变化引起的位置偏差,帮助视觉系统稳定提取工件中心、边缘、角点及标记位置。
镜头结构紧凑,集成了连续变倍、精细调焦和同轴照明功能,可减少外围光学组件数量,方便固晶设备进行安装和调试。
产品类型:同轴连续变倍工业镜头
光学放大倍率:0.41X–2.68X
工作距离:74±1.5mm
最大像面:1/3英寸
照明方式:同轴照明
对焦方式:手动3mm微调
变倍方式:手动连续变倍
接口类型:C-Mount
最高数值孔径:N.A. 0.085
最高参考分辨率:3.95μm
产品型号:VP-LZE-70641R-3
注:景深、分辨率等数据为理论或测试条件下的参考值,实际成像效果会受到工业相机、像元尺寸、光源亮度、工件表面及安装精度等因素影响。
| 光学放大倍率 | 0.41X–2.68X |
|---|---|
| 工作距离 | 74±1.5mm |
| 最大像面 | 1/3英寸 |
| 照明方式 | 同轴照明 |
| 对焦方式 | 手动3mm微调 |
| 变倍方式 | 手动连续变倍 |
| 接口类型 | C-Mount |
| 最高数值孔径 | N.A. 0.085 |
| 最佳参考分辨率 | 3.95μm |
| 适用设备 | 固晶机及半导体视觉设备 |
| 典型应用 | 晶圆对位、芯片定位、精密视觉检测 |
用于识别晶粒或芯片的位置、方向和边缘,为固晶设备提供视觉定位信息,提高拾取、放置和贴装过程的稳定性。
可用于晶圆、晶粒和Die的中心识别、边缘提取、方向判断及对位标记检测。
适用于芯片表面的字符、二维码、定位标记、边缘轮廓及微小结构观察。
可集成至固晶、贴装、封装和视觉引导设备,用于工件定位、位置校正和装配确认。
适用于连接器、传感器、微型电子元件及精密零件的自动定位、方向识别和装配引导。
同轴照明适合金属、晶圆、玻璃、镀层及其他高反光平面,可帮助提高表面标记和边缘特征的成像对比度。
可用于机械平台、运动模组或自动化设备中的视觉找位、坐标校正、抓取引导和装配定位。
主要适用于固晶机、半导体封装设备、芯片贴装设备及需要高精度视觉定位的自动化检测设备。
镜头支持0.41X–2.68X手动连续变倍,可根据检测视野和工件特征大小灵活调整倍率。
该型号采用手动连续变倍方式,并配置手动3mm精细调焦结构,适合设备安装、调试和固定工位应用。如项目需要自动切换倍率,也可参考POMEAS 远心电动连续变倍镜头 。
3mm微调主要用于精细对焦和成像校准,可帮助操作人员更准确地调整清晰度,减少设备调试过程中反复移动镜头的操作。
同轴照明适合晶圆、芯片、金属、玻璃、镀层件及其他表面较平整、反光较强的工件,可增强字符、边缘和定位标记的对比度。
远心光学设计能够减少普通镜头常见的透视变化和成像视差,使不同高度或不同位置的工件保持较稳定的成像比例,有利于视觉定位和尺寸判断。
该镜头最大支持1/3英寸像面。选择工业相机时,还需要综合确认相机接口、传感器尺寸、像元大小和所需视野。
镜头采用标准C-Mount接口,可连接兼容的C口工业相机。有关接口螺纹、法兰距及C-Mount与CS-Mount的区别,可参考 C-Mount接口技术说明 。
镜头标称工作距离为74±1.5mm。设备安装时应根据实际成像、相机配置和工件高度进行精细调整。
根据产品参数说明,搭配最大1/3英寸像面时,低倍率画面边缘可能出现轻微暗角。建议选型时结合相机靶面和实际视野进行确认。
远心光学结构有助于提高成像一致性,可用于视觉定位和部分尺寸判断。但实际测量精度还取决于相机分辨率、标定方式、软件算法和机械平台精度。
需要观察较大范围时可使用较低倍率;需要识别芯片边缘、细小标记或局部结构时,可调至较高倍率。建议根据工件尺寸、相机靶面和目标视野进行选型,也可阅读 变倍镜头倍率、视野与结构选型说明 。
可以。除固晶机外,该镜头还可应用于半导体封装、精密装配、电子元件定位、视觉引导及高反光工件检测设备。
建议提供工件尺寸、目标视野、检测精度、相机型号、传感器尺寸、像元大小、安装空间、工作距离及被测表面特征,以便确认镜头与相机的匹配情况。如需获得针对项目的镜头配置与选型建议,请 联系POMEAS 。
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