玻璃、薄膜、透明胶层这类工件的厚度测量,是传统方法最容易失效的场景之一:影像看不见边界,接触式会划伤,激光三角法会被背面反射干扰。光谱共焦是为此而生的方案之一。
三种常规方法在透明材料上各有各的问题:
光谱共焦之所以能测,是因为它的判据是波长峰值:上下表面各聚一次焦,光谱仪上出现两个独立的峰,两峰换算出的距离差就是厚度。
还有一个前提必须先确认:材料要对该波段透明。如果材料本身吸收强或内部散射严重,第二个峰会非常弱甚至不出现,这种情况下再高的重复精度也没有意义。
POMEAS SFS 系列标注的最小可测厚度为 5% F.S.(SFS-D5012L 为 10% F.S.)。
F.S. 指满量程,也就是总测量行程。举两个例子:
这条参数的含义是:两个峰靠得太近就无法分离。
所以选型时要反过来算:待测厚度必须大于该型号的最小可测厚度,同时总厚度又要落在量程内。
这里有一个细节必须提醒:
光谱共焦测出的是光学距离,也就是两个焦点之间的几何距离。如果材料有折射率,焦点位置会相对真实界面发生位移。
处理办法是在材料中做标定:用已知厚度的同种材料样件标定一次,把折射率的影响吸收进换算系数。
这一条对多层结构尤其重要:每一层的折射率不同,不能用一个系数通吃。
换算关系可以这样理解:传感器读出的是光程,真实厚度等于读出值除以材料折射率,误差随折射率取值偏差线性放大。所以标定要用与量产同批次的材料,更换供应商就要重新标定一次。
以下四种情况,光谱共焦也测不了厚度:
第三条在曲面玻璃上最常见,解决思路是让探头法线对准被测点,或者用测量角度更大的型号。
把上述约束串起来,实际选型就是四步:
POMEAS SFS 系列中,SFS-D410 的应用领域明确列出透明玻璃与薄膜厚度测量,SFS-D606 列出玻璃与薄膜厚度测量,SFS-D1220 列出透明材料厚度测量,这三款是透明件测厚的常用起点。
因为透明材料几乎没有可提取的边缘,背光下轮廓也很弱。接触式测厚会划伤表面、软质材料还会被压变形;激光三角法则会被背面反射干扰产生第二个光斑,位置判定直接混乱。光谱共焦的判据是波长峰值,上下表面各聚一次焦会形成两个独立的峰,两峰换算出的距离差就是厚度。
F.S. 指满量程即总测量行程,这条参数的含义是两个峰靠得太近就无法分离。例如 POMEAS SFS-D1220 总行程 1.2mm、SFS-D500100 总行程 50mm,按 5% 折算各自的最小可测厚度不同(SFS-D5012L 为 10% F.S.)。选型时要反过来算:待测厚度必须大于该型号的最小可测厚度,同时总厚度又要落在量程内。
要。光谱共焦测出的是光学距离,也就是两个焦点之间的几何距离,材料有折射率时焦点位置会相对真实界面发生位移。处理办法是在材料中做标定:用已知厚度的同种材料样件标定一次,把折射率影响吸收进换算系数。多层结构尤其要注意,每一层折射率不同,不能用一个系数通吃。
四条边界:厚度小于该型号的最小可测厚度,两个峰分不开;材料对该波段不透明,光进不去只有上表面一个峰;表面倾斜超出测量角度,例如 SFS-D1220 为 ±32°、SFS-D700150 只有 ±5.5°,回光进不了共焦孔;材料内部散射严重,比如磨砂玻璃、乳白薄膜,峰会变宽甚至消失。
注意测量角度。曲面不同位置的法线方向不同,倾斜超出容差时回光进不了共焦孔。解决思路是让探头法线对准被测点,或者选测量角度更大的型号,例如 POMEAS SFS-D108 支持 ±46.5°。曲面工件建议先实测确认,而不是只看规格表。
POMEAS SFS 系列里 SFS-D410 的应用领域明确列出透明玻璃与薄膜厚度测量,SFS-D606 列出玻璃与薄膜厚度测量,SFS-D1220 列出透明材料厚度测量,这三款是透明件测厚的常用起点。最终仍要按材料透明度、厚度范围、表面形状与装夹空间四步收敛。
照明问题最快的收敛方式是真工件,不是讨论。寄一件样品,附上图纸和你真正要判的特征,我们跑完把结果报给你 —— 包括哪些特征结论是「用光源解决不了」。我们不做「什么都能测」的承诺,只给可验证的结论。
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