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±0.6mm量程30nm高精度光谱共焦位移传感器
SFS-D1220 光谱共焦位移传感器，参考距离 20 mm，测量范围 ±0.6 mm，重复精度 30 nm，线性误差＜±0.24 μm，支持 ±32° 测量角度，适用于精密位移、厚度与轮廓的非接触检测。
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产品介绍
POMEAS SFS-D1220 是一款兼顾量程与精度的高精度光谱共焦位移传感器，参考距离 20 mm，测量范围 ±0.6 mm，重复精度 30 nm，线性误差＜±0.24 μm。20 mm 参考距离为装夹与运动留出充足空间，降低探头与被测物碰撞风险；非接触光学测量适用于高反光、透明与柔软表面，Φ36×106.3 mm 结构约 182 g。
主要特点
- 30 nm 重复精度，线性误差＜±0.24 μm
- ±0.6 mm 测量范围，总行程 1.2 mm
- 20 mm 参考距离，装夹空间充足
- ±32° 测量角度
- Φ9.5/19/152 μm 三模式光斑
- 最小可测厚度 5% F.S.，支持透明材料
- 非接触测量，IP40 防护
技术参数
| 产品型号 | SFS-D1220 |
|---|---|
| 参考距离 | 20 mm |
| 测量范围 | ±0.6 mm |
| 总测量行程 | 1.2 mm |
| 测量角度 | ±32° |
| 光斑直径 | Φ9.5/19/152 μm |
| 重复精度 | 30 nm |
| 线性误差 | ＜±0.24 μm |
| 外形尺寸 | Φ36×106.3 mm |
| 产品重量 | 182 g |
| 最小可测厚度 | 5% F.S. |
| 温度特征 | ＜0.03% F.S./°C |
| 防护等级 | IP40 |
| 测量方式 | 非接触光学测量 |
| 品牌 | POMEAS |
应用领域
适用于精密零件位移与高度测量、透明材料厚度测量、段差与翘曲检测、表面轮廓扫描等需要兼顾量程与精度的工业检测场景。
常见问题
SFS-D1220 的量程和精度是多少？
测量范围 ±0.6 mm（总行程 1.2 mm），重复精度 30 nm，线性误差＜±0.24 μm。
参考距离为什么重要？
参考距离 20 mm 指探头到被测面的标称工作距离，距离越远装夹与运动空间越大，可有效降低碰撞风险。
可以测量透明材料吗？
可以。光谱共焦原理可对透明材料的上表面与下表面分别聚焦，最小可测厚度为 5% F.S.，适合玻璃、薄膜等透明材料的厚度测量。
相关阅读：光谱共焦位移传感器产品列表｜激光测量仪器产品中心
- 产品型号
- SFS-D1220
- 产品重量
- 182 g
- 光斑直径
- Φ9.5/19/152 μm
- 参考距离
- 20 mm
- 品牌
- POMEAS
- 外形尺寸
- Φ36×106.3 mm
- 总测量行程
- 1.2 mm
- 最小可测厚度
- 5% F.S.
- 测量方式
- 非接触光学测量
- 测量范围
- ±0.6 mm
- 测量角度
- ±32°
- 温度特征
- ＜0.03% F.S./°C
- 线性误差
- ＜±0.24 μm
- 重复精度
- 30 nm
- 防护等级
- IP40
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