SFS-D1504 微型光谱共焦位移传感器,参考距离 3.92 mm,测量范围 ±0.75 mm,重复精度 80 nm,线性误差<±0.3 μm,Φ8×68.8 mm 紧凑探头仅 23 g,适用于高精度非接触位移检测。
POMEAS SFS-D1504 是一款高精度微型光谱共焦位移传感器,参考距离 3.92 mm,测量范围 ±0.75 mm,重复精度 80 nm,线性误差<±0.3 μm。Φ8×68.8 mm 紧凑探头与约 23 g 轻量机身,便于集成到自动化设备与多传感器阵列;±14° 测量角度与 Φ20 μm 光斑,可在倾斜表面与细微特征上保持稳定测量。

| 产品型号 | SFS-D1504 |
|---|---|
| 参考距离 | 3.92 mm |
| 测量范围 | ±0.75 mm |
| 总测量行程 | 1.5 mm |
| 测量角度 | ±14° |
| 光斑直径 | Φ20 μm |
| 重复精度 | 80 nm |
| 线性误差 | <±0.3 μm |
| 外形尺寸 | Φ8×68.8 mm |
| 产品重量 | 23 g |
| 最小可测厚度 | 10% F.S. |
| 温度特征 | <0.03% F.S./°C |
| 防护等级 | IP40 |
| 测量方式 | 非接触光学测量 |
| 品牌 | POMEAS |
适用于精密零件位移与高度测量、透明玻璃与薄膜厚度测量、段差与共面度检测、表面轮廓扫描等高精度非接触测量场景。

重复精度 80 nm,线性误差<±0.3 μm(采用纳米级高精度激光干涉仪标定验证)。
外形尺寸 Φ8×68.8 mm,重量约 23 g,结构紧凑,便于装夹与多传感器密集排布。
支持 ±14° 测量角度(使用标准平面反射镜、1kHz 采样率下倾斜测试),可适应一定倾斜范围的被测表面。
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