显微系统能不能做批量与拼接,关键不在相机像素,而在平台能不能每次都回到同一个位置。重复精度就是这条能力的量化指标。
普密斯 MICRO IMAGE3 的平台配置是这样标的:
行程和精度是两件事:行程决定能覆盖多大范围,重复精度决定每次回到同一点的可信度。
读规格时还要注意「行程」与「可放置区域」不是同一个概念,后者通常还要扣除治具占用的空间。
重复精度指平台多次回到同一指令位置时,实际位置的离散程度。
它的意义在两处:
判断够不够用的标准很简单:把重复精度与你的像素当量比大小。重复精度远小于像素当量时,它对结果的影响可以忽略。
重复精度是平台多次走到同一点的一致程度,它和绝对定位精度不是一回事;对拼接而言前者更关键,因为错位主要来自走不到位的一致性偏差。
按两类场景配置:
另外要注意:行程变大通常意味着平台体积与成本上升,也要确认工作台能否放下。
选行程的经验做法是先量出最大工件的长宽,再各留 10%–20% 的余量。MICRO IMAGE3 的平台标配 100×100mm,可选配到 300×300mm,工件超过标配尺寸时应当直接选大平台,而不是靠多次装夹拼图。
做扫描拼接时,下面三条最容易出问题:
第一条是重叠:相邻视场通常留 10%–20% 的重叠供拼接算法对齐。第二条是焦面漂移,扫描过程中要按分区重新对焦。第三条是节拍,视场数乘以单次采集时间往往会超出预期,应提前核算。
还有一个配套的机械参数:MICRO IMAGE3 可扩展最高 75mm 的样品高度空间,方便安装治具和检测较高样品。
这个参数要和物镜工作距离分开算:高度空间是整机容纳样品的能力,工作距离是物镜到样品的合焦距离。两者都满足,样品才装得进去也测得出来。
样品高度空间指的是载物台到物镜之间能容纳的工件高度,MICRO IMAGE3 标注最大 75mm。它与工作距离、Z 轴行程三者互相制约:工件越高,留给物镜的余量越小;此时要么选更长工作距的物镜,要么把平台行程用起来让工件先下降再对焦。高工件配高倍物镜是最容易装不下的组合,必须在选型阶段就核对。
判断方法是和像素当量比大小。如果像素当量在几十微米量级,1μm 的重复精度对结果影响可以忽略;如果做亚微米级测量,就要把它计入误差预算。
拼接算法靠相邻视场的共同特征对齐。没有重叠区就没有可匹配的特征,通常留 10%–20% 的重叠比较稳妥。重叠率太低会在特征稀疏区域失配,太高则白白增加采集张数与节拍,10%–20% 是兼顾两者的取值。
主要是体积、成本与节拍。大行程平台占用工作台面积更大,且行程越长通常单步移动时间也越长,扫描节拍要重新算。反过来行程选小了更麻烦——扫不到边角只能靠人工补拍,一致性会明显下降。
多半是焦面漂移。样品不平时,扫描到不同位置焦面高度不同,需要靠 Z 轴自动对焦分段补偿,MICRO IMAGE3 的 Z 轴自动聚焦行程为 30mm。
不是。样品高度空间是整机容纳样品与治具的能力,MICRO IMAGE3 可扩展最高 75mm;工作距离是物镜到样品的合焦距离,标注为最大 22mm。两个都要满足。
一般可以,电动平台通常保留手动或点动模式用于调试。但做批量检测时应走程序化定位,否则人工定位的一致性无法保证。手动模式更大的价值在调试阶段:先用点动把路径走通,再固化成程序,能省下大量试错时间。
照明问题最快的收敛方式是真工件,不是讨论。寄一件样品,附上图纸和你真正要判的特征,我们跑完把结果报给你 —— 包括哪些特征结论是「用光源解决不了」。我们不做「什么都能测」的承诺,只给可验证的结论。
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