一句话结论:AOI 站的能力上限,取决于传感器前面的光学。四个决策决定整套光学设计:一个像素要在板面上覆盖多少微米(像素当量)、用什么家族的镜头去匹配板子的高度起伏与精度目标(远心 vs FA)、工作距离如何装进机器空间、用哪种照明几何把焊点与焊盘分开。这四步顺序错了,结果是"图很好看,缺陷照样漏"。
从必须可靠检出的最小特征出发——对现代板子,通常是 01005 焊盘(0.4 × 0.2 mm)或焊点细缝,而不是器件本体。按常用采样规则,特征在其关键尺寸方向应至少跨 3 个图像点,由此得到物方像素尺寸的上限。实际工程中,细间距 AOI 大致按每像素 20–30 µm 设目标,缺陷清单允许时才放宽。
像素当量(µm/px)= 视野宽(mm)× 1000 ÷ 传感器横向像素数 — 先定传感器,再定它撑得起的视野。
算例:1200 万像素相机、横向 4096 像素,拍摄 100 mm 宽的板条,像素当量 = 100,000 ÷ 4096 ≈ 24 µm/px。01005 焊盘 0.2 mm 的关键尺寸约跨 8 个像素——做检出很从容,做焊点判断也可行。
PCB 不是平的。器件、连接器与成形焊点带来毫米级高度差,而光学必须在一幅图里同时判断多个高度上的特征。
选型的本质是对"这个站负责哪类缺陷"表态:位置类缺陷推向远心;覆盖类缺陷容忍 FA;多产品线受益于电动变倍。
在 20–30 µm/px 下整板单幅成像需要巨大的传感器,所以多数 AOI 架构把板子分成板条、靠精密 X–Y 平台拼接。光学上的推论是:每一条板条图像的像素当量与畸变都必须在边缘保持住,否则拼接后的整板图会漂。到这里,镜头的场曲与远心度不再是彩页装饰,而是拼接精度本身。
WD 必须让开输送轨道、顶部照明与板叠厚度变化——同时镜头要在这一距离上保持额定几何。机器无法贴近板面时,长工作距离的远心设计保住测量几何;空间允许时,短 WD 换来更小更便宜的光学包。
焊点是最难的表面:镜面、曲面、还在经历回流各阶段。多数"相机看不清焊点"的抱怨是照明几何问题,不是分辨率问题。
这里的每个数字都来自缺陷清单、传感器与机器——没有一个来自镜头彩页。彩页是最后查的,不是先查的。
从 01005 焊盘 0.2 mm 的关键尺寸反推:按"特征至少跨 3 个图像点"的常用规则,物方像素尺寸须小于约 65 µm/px;细间距 AOI 站通常按每像素 20–30 µm 设目标,让焊点判断仍然可行,而不只是有无检出。
当工位要在不同器件高度上做位置测量时,用远心光学——倍率稳定性与畸变控制在那里决定结果。当缺陷清单以大视野下的有无与方向为主、预算固定时,普通 FA 镜头是务实之选。很多产线最终两者混用,各管一台相机。
焊点是镜面且带曲率,固定角度的照明被反射到传感器之外,对比度随之丢失。改变照明几何——用平面穹顶扩散反射,或用同轴通道对付平坦焊盘——通常就能找回对比度,这是分辨率替代不了的。
只有在像素当量粗到细间距缺陷检不出的情况下才行:在 25 µm/px 下覆盖 300 mm 宽的板子,单方向就需要 12000 像素的传感器,其背后的光学体量也随之膨胀。这就是生产型 AOI 把整板拆成板条、由精密平台拼接的原因——像素当量保持不变,每条畸变也小。
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