Base de connaissances en vision industrielle : guides de sélection d'objectifs
Savoir-faire
Éclairage AOI des PCB : coaxial, angle rasant et RGB dans une seule cellule
Trois problèmes optiques sur un PCB — pastilles, relief des soudures, couleur de la sérigraphie — exigent trois éclairages. Comment les combiner sans perdre d'images ?
Mise à niveau objectif AOI PCB : champ de 17,3 mm à 12 ou 8 mm
Gardez votre caméra et votre éclairage AOI et réduisez le champ de 17,3 × 17,3 mm à 12 × 12 ou 8 × 8 mm. Calcul du grossissement et deux voies optiques, avec le coût en distance de travail.
Modules OEM de métrologie optique : checklist de vérification de la conception à la production
Six jalons de qualification pour les modules de métrologie optique, de la faisabilité au contrôle des changements, avec les champs de spécification qui se transfèrent réellement.
Métrologie at-line robotisée : quand ajouter une station optique à caméra
Quand une station optique à caméra mérite sa place à côté d'un bras robot : bilan d'incertitude, profondeur de champ, temps de cycle et responsabilité des interfaces.
Inspection HBM et WLP : séparer la métrologie 3D de la revue 2D des défauts
Pourquoi la métrologie 3D et la revue 2D des défauts exigent des chaînes optiques distinctes en lignes HBM et WLP : arithmétique d'ouverture, d'échantillonnage et de profondeur de champ.
Inspection des cœurs en verre TGV : AOI de surface et détection des fissures sous-jacentes
Pourquoi une AOI en lumière visible et un système 1200-1800 nm pour fissures restent deux outils distincts : arithmétique de champ pour panneaux TGV, empilage ABF et conicité des vias.
Mesure de micro-trous sur composants fibre optique : essai sur 10 pièces | POMEAS
Données réelles : tête de mesure d'image en ligne série HM sur un composant fibre à deux micro-trous. 10 pièces, 5 lectures chacune, σ regroupée 0,39–0,50 μm.
Solutions de mesure de précision pour télécommunications optiques | POMEAS
Têtes de mesure d'image en ligne, jauges laser de diamètre et métrologie optique 3D pour connecteurs fibre, ferrules, matrices de fibres et composants de transceivers.
Inspection des défauts SiC : zoom motorisé ou objectif apochromatique avec autofocus laser
Un défaut de 1 µm manqué sur SiC est un problème de résolution, pas de pixel : à 7,5× le zoom 12,5X échantillonne 0,46 µm/pixel mais ne résout que 3,05 µm.
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