Base de connaissances en vision industrielle
Savoir-faire
Objectif zoom 12.5X pour l'inspection des disques codeurs optiques
Un disque codeur 512 P/R inspecté avec un objectif zoom 12.5X et une caméra 2 MP : champs réels sur un capteur 1/2 pouce, éclairage et ce que prouvent les images.
Objectif zoom 14X pour décapsulation laser : cas d'imagerie de puce
Objectif zoom 14X et caméra 12 MP pour imager une puce durant la décapsulation laser : effets d'un axe incliné sur la mise au point et la profondeur de champ.
Rétroéclairage diffus ou collimaté pour la mesure dimensionnelle
Rétroéclairage diffus ou collimaté : la différence n'est pas la luminosité mais la position du bord. t·tanα décide si le diamètre mesuré dérive avec l'épaisseur.
Éclairage des rayures sur surfaces métalliques : champ sombre sans approximations
Le champ clair masque les rayures du métal ; le champ sombre à faible angle (10–30°) les révèle. Angle, azimut et rugosité fixés avant de promettre un taux de détection.
Éclairage AOI des PCB : coaxial, angle rasant et RGB dans une seule cellule
Trois problèmes optiques sur un PCB — pastilles, relief des soudures, couleur de la sérigraphie — exigent trois éclairages. Comment les combiner sans perdre d'images ?
Mise à niveau objectif AOI PCB : champ de 17,3 mm à 12 ou 8 mm
Gardez votre caméra et votre éclairage AOI et réduisez le champ de 17,3 × 17,3 mm à 12 × 12 ou 8 × 8 mm. Calcul du grossissement et deux voies optiques, avec le coût en distance de travail.
Modules OEM de métrologie optique : checklist de vérification de la conception à la production
Six jalons de qualification pour les modules de métrologie optique, de la faisabilité au contrôle des changements, avec les champs de spécification qui se transfèrent réellement.
Métrologie at-line robotisée : quand ajouter une station optique à caméra
Quand une station optique à caméra mérite sa place à côté d'un bras robot : bilan d'incertitude, profondeur de champ, temps de cycle et responsabilité des interfaces.
Inspection HBM et WLP : séparer la métrologie 3D de la revue 2D des défauts
Pourquoi la métrologie 3D et la revue 2D des défauts exigent des chaînes optiques distinctes en lignes HBM et WLP : arithmétique d'ouverture, d'échantillonnage et de profondeur de champ.
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