SFS-D1506L 微型光谱共焦位移传感器,参考距离 5.75 mm,测量范围 ±0.75 mm,重复精度 80 nm,线性误差<±0.3 μm,Φ8×70.2 mm 紧凑探头仅 23 g,适用于空间受限的高精度非接触检测。
POMEAS SFS-D1506L 是一款高精度微型光谱共焦位移传感器,参考距离 5.75 mm,测量范围 ±0.75 mm,重复精度 80 nm,线性误差<±0.3 μm。相比 3.92 mm 参考距离的 D1504,5.75 mm 的参考距离提供更充足的装夹与运动空间;Φ8×70.2 mm 紧凑探头与约 23 g 机身,适合多传感器阵列与狭小安装位的高精度非接触测量。

| 产品型号 | SFS-D1506L |
|---|---|
| 参考距离 | 5.75 mm |
| 测量范围 | ±0.75 mm |
| 总测量行程 | 1.5 mm |
| 测量角度 | ±14° |
| 光斑直径 | Φ20 μm |
| 重复精度 | 80 nm |
| 线性误差 | <±0.3 μm |
| 外形尺寸 | Φ8×70.2 mm |
| 产品重量 | 23 g |
| 最小可测厚度 | 10% F.S. |
| 温度特征 | <0.03% F.S./°C |
| 防护等级 | IP40 |
| 测量方式 | 非接触光学测量 |
| 品牌 | POMEAS |
适用于精密零件位移与高度测量、透明材料厚度测量、振动与段差检测、多探头阵列测量等需要兼顾工作距离与安装空间的高精度场景。

两者精度相同(80 nm),区别在参考距离与探头长度:D1506L 参考距离 5.75 mm、探头长 70.2 mm;D1504 参考距离 3.92 mm、探头长 68.8 mm。工作距离更远时装夹与运动空间更充足。
重复精度 80 nm,线性误差<±0.3 μm(纳米级高精度激光干涉仪标定验证)。
Φ8×70.2 mm、23 g 的紧凑设计适合多传感器密集排布与狭小安装位,5.75 mm 参考距离为装夹与被测面起伏留出余量。
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