База знаний о машинном зрении
База знаний
Зум-объектив 12.5X для инспекции оптических дисков энкодеров
Диск энкодера 512 P/R под инспекцией зум-объектива 12.5X и камеры 2 MP: реальные поля зрения на сенсоре 1/2 дюйма, освещение и что доказывают изображения.
Зум-объектив 14X для лазерной декапсуляции: случай визуализации кристалла
Как объектив 14X с непрерывным зумом и камера 12 MP визуализируют кристалл при лазерной декапсуляции и что наклонная ось делает с фокусировкой и глубиной резкости.
Рассеянная или коллимированная задняя подсветка для измерения размеров
Разница между рассеянной и коллимированной задней подсветкой — не яркость, а положение края: t·tanα решает, будет ли измеренный диаметр зависеть от толщины детали.
Освещение царапин на металлических поверхностях: тёмное поле без догадок
Светлое поле скрывает царапины на металле; тёмное поле под малым углом (10–30°) их выявляет. Задайте угол, азимут и шероховатость до обещания уровня обнаружения.
Освещение AOI для печатных плат: коаксиальное, под малым углом и RGB в одной ячейке
Три оптические задачи на одной печатной плате — отражение площадок, рельеф пайки и цвет маркировки — требуют трёх разных освещений. Как совместить их без лишних кадров.
Модернизация объектива AOI для плат: поле с 17,3 мм до 12 или 8 мм
Сохраните камеру и подсветку AOI и уменьшите поле зрения с 17,3 × 17,3 мм до 12 × 12 или 8 × 8 мм. Расчёт увеличения, два оптических пути и цена по рабочему расстоянию.
Оптические модули метрологии для OEM: чек-лист верификации от проекта до производства
Шесть этапов квалификации оптических метрологических модулей — от оптической осуществимости до управления изменениями — и поля спецификации, которые реально передаются.
Роботизированная at-line-метрология: когда добавлять оптическую станцию на базе камеры
Когда оптическая станция на базе камеры оправдана рядом с роботом: бюджет неопределённости, глубина резкости, время цикла и владение интерфейсами.
Контроль HBM и WLP: отделяйте 3D-метрологию от 2D-просмотра дефектов
Почему 3D-метрология высоты и 2D-просмотр дефектов требуют разных оптических каналов на линиях HBM и WLP: расчёты числовой апертуры, дискретизации и глубины резкости.
Подписаться на нашу рассылку
Введите свой адрес электронной почты, чтобы получать свежие новости и эксклюзивные обновления от Pomeas. Оставайтесь на связи с Pomeas и будьте в курсе новейших оптических решений.
