工业相机像素与缺陷检测计算器
输入相机分辨率、靶面尺寸、目标视野与最小缺陷尺寸，工具给出物方采样能力与达到目标采样所需的分辨率。
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计算公式与适用条件
| 物方像素尺寸 | p_物 =（靶面宽 / 横向像素）/ β，其中 β = 靶面宽 / 视野宽 |
|---|---|
| 缺陷覆盖像素数 | n = 缺陷尺寸 / p_物 |
| 所需横向像素 | 横向像素 = 视野宽 /（缺陷尺寸 / 目标像素数） |
参数定义
| 相机分辨率 | 传感器横向有效像素数。 |
|---|---|
| 有效靶面尺寸 | 成像区域尺寸（mm），取自相机规格书。 |
| 视野 | 单张图像覆盖的物方区域。 |
| 缺陷尺寸 | 需检出的最小特征（µm）。 |
| 缺陷目标采样像素 | 期望最小特征覆盖的像素数。 |
使用示例
- 视野 50 mm、缺陷 10 µm、目标 3 像素：所需横向像素 = 50 /（0.010 / 3）= 15 000 px。
- 1 英寸靶面（12.8 mm）配 500 万像素相机（2592 px）：物方像素尺寸 = 19.3 µm/px，10 µm 缺陷仅覆盖 0.5 个像素。
- 结论：该相机无法有效采样该缺陷，需要提高倍率（缩小视野）或改用线扫 / 多相机方案。
常见问题
缺陷覆盖 3 个像素就一定检得出吗？
3 像素是常用的采样经验判据，不是保证。实际检出能力还取决于光学 MTF、对比度、照明、传感器噪声与检测算法。
为什么工具要把采样与精度分开？
采样描述物方被离散化的细度；精度描述测量值接近真值的程度，取决于标定与整体误差预算。两者是不同概念。
只提高相机分辨率就能达标吗？
只有在光学系统确实能分辨该细节、且照明与对比度足够时才成立。选型前应先核对镜头规格书给出的分辨率。
列出的 POMEAS 相机依据是什么？
仅收录参数来自普密斯官方规格书的机型；没有可读规格书的型号不予收录。
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