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Cómo elegir entre desplazamiento de fase, barrido vertical, profundidad de campo extendida y campo claro: criterio por rugosidad, desnivel y objetivo de la medición, con los errores típicos de elegir mal.
El principio de la interferometría de luz blanca explicado sin rodeos: de dónde salen las franjas, por qué la longitud de coherencia corta permite localizar la altura y cómo el barrido en Z reconstruye la topografía.
Un equipo de 0,2 nm sobre el suelo de un taller y el mismo equipo sobre una mesa aislada son dos instrumentos distintos. Qué controlar y cómo verificarlo.
No es cuestión de cuál es más avanzado, sino de en qué superficie falla cada uno. Comparación por principio, por tipo de muestra, por velocidad y por campo.
La rugosidad pide resolución y el escalón pide rango: son dos problemas distintos. El límite real de una ranura no es la profundidad sino la relación de aspecto.
Dos informes de la misma pieza pueden contradecirse con los dos correctos. La causa casi nunca es el equipo: es el parámetro y la condición de muestreo.
Resolución vertical, lateral, campo, píxel y recorrido son cinco cosas distintas. Cómo convertir cada una y qué indicadores no suele publicar la ficha.
No es un microscopio que se ve mejor: es un instrumento que devuelve altura en nanómetros. Cómo repartir observación, cota 2D y topografía 3D sin comprar dos veces.
Elegir por la cifra de resolución más pequeña es la forma más rápida de comprar el instrumento equivocado. Los tres sensores miden magnitudes distintas.
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