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Tres problemas ópticos en un PCB — pads reflectantes, relieve de soldadura y color de serigrafía — piden tres iluminaciones. Cómo combinarlas sin desperdiciar imágenes.
Conserve su cámara y su iluminación AOI y reduzca el campo de 17,3 × 17,3 mm a 12 × 12 u 8 × 8 mm. Cálculo de aumentos y dos rutas ópticas, con el coste en distancia de trabajo.
Una ruta de calificación en seis puertas para módulos de metrología óptica, de la viabilidad óptica al control de cambios, con los campos de especificación que realmente se transfieren.
Cuándo una estación óptica de cámara se gana su sitio junto a un brazo robótico: presupuesto de incertidumbre, profundidad de campo, tiempo de ciclo y propiedad de la interfaz.
Por qué la metrología 3D de altura y la revisión 2D de defectos necesitan cadenas ópticas separadas en líneas de HBM y WLP, con aritmética de NA, muestreo y profundidad de campo.
Por qué una estación AOI de luz visible y un sistema de grietas de 1200-1800 nm siguen siendo herramientas separadas, con aritmética de campo para paneles TGV, capas ABF y conicidad de vías.
Datos reales: cabeza HM en línea sobre un componente de fibra óptica con dos microorificios. 10 piezas, 5 lecturas cada una, σ agrupada 0,39–0,50 μm.
Cabezas de medición de imágenes en línea, calibres láser de diámetro y metrología óptica 3D para conectores de fibra, ferrules, matrices de fibra y componentes de transceptores.
Un defecto de 1 µm que se escapa en SiC es un problema de resolución, no de píxel: a 7,5× el zoom 12,5X muestrea 0,46 µm/píxel pero resuelve 3,05 µm.
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