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POMEAS MPT-AF 显微单元 | 大靶面同轴照明无限远光学系统
POMEAS MPT-AF 无限远校正显微单元支持最大 2 英寸（dia 32 mm）传感器，F 接口，同轴照明，兼容长工作距物镜。
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产品概述
MPT-AF 是一款面向工业高分辨率检测的无限远校正显微单元。大靶面同轴照明无限远光学系统，适用于对成像清晰度与对比度要求较高的机器视觉与量测场景。
主要规格
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 焦距 | 200 mm |
| 入瞳直径 | dia 20 mm |
| 传感器尺寸 | 最大 2"（dia 32 mm） |
| 长度 | 207.5 mm |
| 接口 | F 接口 |
| 照明方式 | 同轴照明 |
| 工作温度 | -10 °C 至 +50 °C |
主要特点
- 大靶面兼容 — 支持最大 2"（dia 32 mm）传感器，满足高分辨率检测需求。
- 专业同轴光学 — 照明均匀、成像清晰、对比度高。
- 无限远校正光学系统 — 兼容主流品牌平场消色差长工作距物镜。
- F 接口 — 大面阵成像系统常用卡口，连接稳固。
典型应用
- 半导体晶圆与封装检测
- PCB 焊点与线路检测
- 金属/塑胶件缺陷检测
- 精密连接器与组装检测
- 实验室材料分析
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