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45mm参考距离140nm光谱共焦位移传感器
SFS-D7045 光谱共焦位移传感器，参考距离 45 mm，测量范围 ±3.5 mm，重复精度 140 nm，线性误差＜±0.7 μm，支持 ±15.5° 大测量角度，适用于远工作距离高精度非接触检测。
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产品介绍
POMEAS SFS-D7045 是一款高精度光谱共焦位移传感器，参考距离 45 mm，测量范围 ±3.5 mm，重复精度 140 nm，线性误差＜±0.7 μm。±15.5° 的大测量角度适应曲面与斜面检测；Φ36×84.2 mm 结构约 200 g，便于装夹集成；非接触光学测量适用于高反光、透明与柔软表面。
主要特点
- 140 nm 重复精度，线性误差＜±0.7 μm
- ±3.5 mm 测量范围，总行程 7 mm
- 45 mm 参考距离，装夹空间充足
- ±15.5° 大测量角度，适应曲面斜面
- Φ20/40/320 μm 三模式光斑
- 最小可测厚度 5% F.S.，支持透明材料
- IP40 防护
技术参数
| 产品型号 | SFS-D7045 |
|---|---|
| 参考距离 | 45 mm |
| 测量范围 | ±3.5 mm |
| 总测量行程 | 7 mm |
| 测量角度 | ±15.5° |
| 光斑直径 | Φ20/40/320 μm |
| 重复精度 | 140 nm |
| 线性误差 | ＜±0.7 μm |
| 外形尺寸 | Φ36×84.2 mm |
| 产品重量 | 200 g |
| 最小可测厚度 | 5% F.S. |
| 温度特征 | ＜0.03% F.S./°C |
| 防护等级 | IP40 |
| 测量方式 | 非接触光学测量 |
| 品牌 | POMEAS |
应用领域
适用于远工作距离的位移与高度测量、透明材料厚度测量、曲面段差检测、表面轮廓扫描等高精度非接触测量场景。
常见问题
SFS-D7045 的精度表现如何？
重复精度 140 nm，线性误差＜±0.7 μm，支持 ±15.5° 大测量角度。
量程和参考距离是多少？
参考距离 45 mm，测量范围 ±3.5 mm（总行程 7 mm）。
可以测量透明材料吗？
可以。光谱共焦原理可对透明材料上下表面分别聚焦，最小可测厚度 5% F.S.。
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- 产品型号
- SFS-D7045
- 产品重量
- 200 g
- 光斑直径
- Φ20/40/320 μm
- 参考距离
- 45 mm
- 品牌
- POMEAS
- 外形尺寸
- Φ36×84.2 mm
- 总测量行程
- 7 mm
- 最小可测厚度
- 5% F.S.
- 测量方式
- 非接触光学测量
- 测量范围
- ±3.5 mm
- 测量角度
- ±15.5°
- 温度特征
- ＜0.03% F.S./°C
- 线性误差
- ＜±0.7 μm
- 重复精度
- 140 nm
- 防护等级
- IP40
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