Модернизация объектива AOI для плат: поле с 17,3 мм до 12 или 8 мм Модернизация объектива AOI для плат: поле с 17,3 мм до 12 или 8 мм

Модернизация объектива AOI для плат: поле с 17,3 мм до 12 или 8 мм

Сохраните камеру и подсветку AOI и уменьшите поле зрения с 17,3 × 17,3 мм до 12 × 12 или 8 × 8 мм. Расчёт увеличения, два оптических пути и цена по рабочему расстоянию.

Оптические модули метрологии для OEM: чек-лист верификации от проекта до производства Оптические модули метрологии для OEM: чек-лист верификации от проекта до производства

Оптические модули метрологии для OEM: чек-лист верификации от проекта до производства

Шесть этапов квалификации оптических метрологических модулей — от оптической осуществимости до управления изменениями — и поля спецификации, которые реально передаются.

Роботизированная at-line-метрология: когда добавлять оптическую станцию на базе камеры Роботизированная at-line-метрология: когда добавлять оптическую станцию на базе камеры

Роботизированная at-line-метрология: когда добавлять оптическую станцию на базе камеры

Когда оптическая станция на базе камеры оправдана рядом с роботом: бюджет неопределённости, глубина резкости, время цикла и владение интерфейсами.

Контроль HBM и WLP: отделяйте 3D-метрологию от 2D-просмотра дефектов Контроль HBM и WLP: отделяйте 3D-метрологию от 2D-просмотра дефектов

Контроль HBM и WLP: отделяйте 3D-метрологию от 2D-просмотра дефектов

Почему 3D-метрология высоты и 2D-просмотр дефектов требуют разных оптических каналов на линиях HBM и WLP: расчёты числовой апертуры, дискретизации и глубины резкости.

Контроль стеклянного основания TGV: AOI поверхности против обнаружения внутренних трещин Контроль стеклянного основания TGV: AOI поверхности против обнаружения внутренних трещин

Контроль стеклянного основания TGV: AOI поверхности против обнаружения внутренних трещин

Почему станция AOI на видимом свете и система поиска трещин на 1200-1800 нм остаются разными инструментами: расчёты поля для панелей TGV, наращивания ABF и конусности виа.

Измерение микроотверстий волоконно-оптических компонентов: тест 10 изделий × 5 измерений | POMEAS Измерение микроотверстий волоконно-оптических компонентов: тест 10 изделий × 5 измерений | POMEAS

Измерение микроотверстий волоконно-оптических компонентов: тест 10 изделий × 5 измерений | POMEAS

Реальные данные: онлайн головка серии HM на волоконно-оптическом компоненте с двумя микроотверстиями. 10 изделий, по 5 отсчётов, объединённое СКО 0,39–0,50 мкм.

Решения для точных измерений в оптической связи | POMEAS Решения для точных измерений в оптической связи | POMEAS

Решения для точных измерений в оптической связи | POMEAS

Онлайн измерительные головки, лазерные измерители диаметра и 3D-метрология для феррулов, волоконных массивов и компонентов трансиверов.

Контроль дефектов пластин SiC: зум-объектив или апохромат с лазерным автофокусом Контроль дефектов пластин SiC: зум-объектив или апохромат с лазерным автофокусом

Контроль дефектов пластин SiC: зум-объектив или апохромат с лазерным автофокусом

Пропуск дефекта 1 мкм на SiC — проблема разрешения, а не пикселя: на 7,5× зум 12,5X даёт 0,46 мкм/пиксель, но разрешает 3,05 мкм. Разбор методов и автофокуса.

Один кадр и сто размеров: пределы метода Один кадр и сто размеров: пределы метода

Один кадр и сто размеров: пределы метода

Что реально даёт измерение всех размеров за один кадр: до 100 размеров контура, но не высоты, не скрытые элементы и не внутренние полости. Где проходит граница метода.

Вернуться к началу
VK Message
WhatsApp

Отсканируйте QR-код

QR-код WhatsApp
Wechat

Отсканируйте QR-код

QR-код Wechat
Номер телефона
+8618598102007
Скопировано!
Сообщение в режиме онлайн

Сообщение в режиме онлайн

Click to refresh